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アドバンテスト
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アドバンテスト、SSDテスト・システムの新製品「MPT3000HVM」を発表
SSDテスト・システムの新製品「MPT3000HVM」を発表 低コストでクライアントSSDの量産試験にターゲット市場を拡大 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、SSDテスト・システムの新製品「MPT3000HVM」を発表しました。高密度実装のモジュールを採用することで、当社従来製品比で低コストと省スペースを実現しました。また、同測数に応じてスケーラブルにシステム構成を選択でき、SSD市場の多様化に対応します。エンタープライズSSDとクライアントSSD両方の量産試験にご利用いただけるテスト・システムです。 SSDの出荷量は2019年には3億個に達すると予測されています(ガートナー社調べ...
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アドバンテスト、テスト・システムV93000のアナログ・モジュール「AVI64」を発表
テスト・システムV93000の新アナログ・モジュール「AVI64」を発表 V93000プラットフォームにモバイル、自動車向け アナログ/パワーデバイスのテスト機能を付加 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、成長著しいモバイル、自動車電子化を支えるアナログ/パワーデバイスを効率良く、低コストでテストできるテスト・システムV93000の新モジュール「AVI64」を発表しました。 これにより「V93000」プラットフォームは高性能SoCから少ピン・アナログICまで幅広いデバイスを単一プラットフォームでテストすることが可能になり、スマートハウスやスマートシティといった未...
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アドバンテスト、小型チャンバに被測定センサーを最大4個装着の圧力ユニット「HA7200」を発表
温度・圧力ユニット「HA7200」を発表 「EVA100」とのテスト・セルとして デンソーの車載圧力センサ・テストに採用決定 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江 真一郎)は、圧力センサの最終テストに必要な温度及び圧力をセンサに印加する温度・圧力ユニット「HA7200」を発表しました。 「HA7200」は小型チャンバに被測定センサを最大4個装着し、当社のテスト・ハンドラで実績のある「Dual−Fluid」技術でダイレクトに温度を印加します。高速・高精度で温度制御と圧力印加することができ、トリミングや検査の所要時間と精度も大幅に改善します。 この度、「HA7200」と当社の計測シス...
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アドバンテスト、高速メモリUFSや1チップPCIe SSD向けテスト・システム「T5851」を発表
メモリ・テスト・システム「T5851」を発表 高速メモリUFS(Universal Flash Storage)や1チップPCIe SSD向けテスト・システム 高い生産性と低いテスト・コストを兼ね備えた、システムレベル・テスト・ソリューション 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、メモリ・テスト・システムの新製品「T5851」を発表しました。 ※製品画像は添付の関連資料を参照 「T5851」は、スマートフォン、タブレット、ノートPCなどのモバイル機器に使用される、高性能・低消費電力の次世代高速メモリUFS(Universal Flash Storage)や、1チップ化されたBGAタイプPCIe(PCIexpress)SSD(Solid−State Drives)向けテ...
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アドバンテスト、SSDテスト・システム「MPT3000」向けファームウエアを発表
SSDテスト・システム「MPT3000」 SAS,SATA対応ファームウエアをリリース ハードウエア交換無しで異なるプロトコルに対応、品種交換時のダウンタイムを削減 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、SSD(ソリッド・ステード・ドライブ)テスト・システム「MPT3000」向けに、新たなファームウエアをリリースしました。 このファームウエアは、SSDの高速プロトコルである12Gbps SAS(Serial Attached SCSI)や、6Gbps SATA(Serial Advanced Technology Attachment)に対応したものです。これにより「MPT3000」は、現在のSSDの主要プロトコルであるSAS、SATA、PCI Express(PCIe3.0+NVMe、PCIe3.0+AHCI...
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アドバンテスト、メモリ・テスト・システム「T5833」を販売開始
メモリ・テスト・システム「T5833」を販売開始 モバイルDRAMとNANDフラッシュ・メモリ双方の試験に対応できる 新しい多機能 メモリ・テスト・システム 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、DRAMとNANDフラッシュ・メモリ双方の試験に対応したメモリ・テスト・システム「T5833」の出荷を2015年6月に開始します。 今後一層の普及が見込まれるモバイル製品には、高速で大容量化が進むDRAM、NANDフラッシュ、MCP(Multi Chip Package)が使われています。これら高速化と大容量化が進むデバイスについて、「T5833」はウエハ試験とパッケージ試験を共に行うことができる多機能型テスト・...
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テラヘルツ波による半導体回路解析技術を開発 サブテラヘルツ通信デバイス、3D実装半導体の開発に大きく貢献 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、短パルスのテラヘルツ波(*1)を活用した、サブテラヘルツ波帯(周波数100GHz〜1THz)デバイスの伝送特性(Sパラメータ(*2))解析技術、およびチップ内部の配線品質解析(TDT/TDR(*3))技術を開発ました。当技術は、既存の解析装置では技術的・コスト的に極めて困難だった、サブテラヘルツ通信デバイスの特性評価や、3D実装半導体の配線故障解析を可能とし、これら先端デバイスの開発と普及に貢献します。 (1)サブテラヘル...
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アドバンテスト、光トランシーバ用デバイス向けテスト・ソリューション「28G OPM」を発表
光トランシーバ用デバイス向けテスト・ソリューション テスト・システム T2000「28G OPM」を発表 成長続くデータセンタ、ネットワーク市場に拡販 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、光トランシーバ用デバイス試験向けとしては当社初のテスト・ソリューション「28G OPM(28−gigabitOptical Port Module)」を発表しました。 光トランシーバと光ファイバによる光伝送は、ワイヤーケーブルによる通信と比較して、伝送距離、通信速度、消費電力の全てにおいて大きく優れています。また、光トランシーバは、モバイル通信やクラウド・コンピューティングなどの膨大なデータを送受信す...
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アドバンテスト、自動車産業などの温度評価用「無線温度ロガー『AirLogger WM1010』」を発表
コードが消えた。圧倒的な作業効率の 無線温度ロガー「AirLogger(TM)『WM1010』」を発表 高い作業効率と困難であった動体温度測定を容易に実現 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、自動車産業を始めとする様々な産業の研究開発から生産現場までの温度評価用として「無線温度ロガー『AirLogger(TM)WM1010』」を発表しました。 「AirLogger(TM)WM1010」は、熱電対式のデータ処理部を搭載した温度測定ユニットから、無線通信を利用して測定データをパソコンへ表示/保存する画期的なワイヤレス温度ロガーです。複数ポイントの測定や、従来測定が困難であったタイヤ等の回転体から動体、広域...
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アドバンテスト、半導体パッケージの厚さを測定する検査装置を販売開始
テラヘルツ波技術による半導体非破壊検査 パッケージ厚検査装置「TS9000」を販売開始 アドバンテスト、テラヘルツ解析の産業応用を本格開始 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、半導体パッケージの厚さを測定する「チップ・モールド膜厚検査システム『TS9000』」の販売を開始しました。 「TS9000」は、テラヘルツ波を用いて半導体パッケージの厚さを非破壊で測定する装置です。量産工程での使用に不可欠な高速・高精度でのパッケージ厚の非破壊解析を実現し、スマートフォンの普及などを背景に小型化・高集積化が進む半導体デバイスの品質向上に大きく貢献します。 この...
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アドバンテスト、エンジニアリング向けのSSDテスト・システムを発表
SSD開発向けテスト・システム「MPT3000ES」を発表 効率的SSDテストをエンジニアの机上で実現 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)は、2014年6月に発表したSSD(ソリッド・ステート・ドライブ)テスト・システム「MPT3000」のエンジニアリング向け「MPT3000ES」(Engineering Station)を発表しました。 「MPT3000ES」は、小さなスペースで最大8個のデバイスを同時に測定することができます。コンパクトなボディを持ち、一般的な家庭用電源で使用できる「MPT3000ES」は、事務所内や簡易実験室環境でのテスト・プログラム開発やSSDの解析・デバッグを可能にします。また、操作性に優...
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アドバンテスト、アナログIC/ミクスド・シグナルIC向け計測システムを販売開始
アナログIC、ミクスド・シグナルIC向け計測システム「EVA100」を販売開始 評価から量産までのあらゆるシーンでエンジニアを強力にサポート 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)は、少数ピンのアナログICや、デジタル回路とアナログ回路の両方を搭載したミクスド・シグナルICテスト向け計測システム「EVA100」の販売を開始しました。 ■本システムの特長 拡張性あるシステム・アーキテクチャを持つ計測システム「EVA100」は、優れた計測機能と直感的な操作性で、エンジニアに求められていた高いテスト・プログラミング技術と機器の複雑な操作技術の負担を軽減させ、お客様が開発中のデバ...
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アドバンテスト、物質を非破壊・非接触で解析するテラヘルツ分光システムをソウル大学に納入
テラヘルツ分光システム「TAS7500SP」を韓国ソウル大学が導入 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)のテラヘルツ分光システム「TAS7500SP」が韓国のソウル大学から受注を獲得し、先日納入されました。 このソウル大学への導入を機に、他大学や企業、研究機関へのテラヘルツ解析技術の普及が進み、当社テラヘルツ製品へのニーズがさらに拡大することが期待されます。 ソウル大学 テラヘルツバイオ応用システムセンター所長のGun−Sik Park教授からは、「TAS7500SPは性能だけでなく、簡便な操作性を持ち合わせているため、今まで高度なテラヘルツ技術を必要としたテラヘルツ帯の解析...
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SoCデバイス向けテスト・ハンドラ「M4871」を発表 業界屈指のハンドリング精度と温度制御技術で 先端SoCデバイスに効率的かつ柔軟なテスト・ソリューションを提供 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)は、SoC(System−on−Chip)デバイス向けテスト・ハンドラの新製品「M4871」を発表しました。当製品は、被測定デバイスへのコンタクト位置精度を画像処理で高精度に補正する「両面visual alignment」機能、被測定デバイスへの高精度、高レスポンスの温度印加を可能にする「Active Thermal Control」、およびネットワークを介してテスト状況をリアルタイムに監視できる機能などが新たに加わりました。...
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アドバンテストグループ、スマート・デバイス向けVoLTE、NFCテスト・シナリオを発表
W2BI社、スマート・デバイス向けにVoLTE、NFCテスト・シナリオを発表 シナリオ・ベース・テストを自動実行。 携帯電話会社、端末メーカー、テストラボに多彩なデバイス認証プラットホームを提供。 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)のグループ会社W2BI, INC.(以下W2BI社、本社:米国ニュージャージー州、President and CEO:Derek DiPerna)は、同社のテスト・オートメーション・プラットフォームQUIKSTRESSTMおよびQ-DAATTM、QUIKPROBETMに、2つのテスト・シナリオを追加したことを発表しました。 一つめは、LTE規格スマート・デバイスのVoLTE*1テスト・シナリオです。デバイスOS、モデム・ネットワーク、バックエンド・システム...
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アドバンテスト、モバイル機器向けシステムレベルテスト用ソフト開発の米社を買収
米国W2BI.COM社買収についてのお知らせ 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)は、米国においてモバイル機器のシステムレベルテスト用ソフトウエアの開発、販売を行うW2BI.COM, INC.(以下w2bi社、本社:米国ニュージャージー州、President and CEO:Derek DiPerna)との間で、当社が当社米国子会社を通じw2bi社を買収することで基本的な合意にいたりましたので、お知らせします。今後、当社の米国子会社であるAdvantest America, Inc.は、必要な手続きを進め、本年5月にもw2bi社を完全子会社化する予定です。 スマートフォンをはじめとするモバイル機器では、LTEやGSMなど複数通信方式への対応、複数周波数への対応、端末上で動作す...
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アドバンテスト、MEMSセンサ試験市場に参入 MEMSセンサの低コスト量産試験に最適なテスト・システム 「V93000 Smart Scale」をフリースケール・セミコンダクタ社に納品 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)のテスト・システム「V93000 Smart Scale(TM)」が、MEMSセンサの開発および生産用として、フリースケール・セミコンダクタ社の世界各地の拠点に設置されました。本件は、今後も高成長が期待されるMEMSセンサ市場における、当社テスト・システムの本格的参入となります。 「V93000 Smart Scale」は、「Pin Scale 1600」デジタル・モジュールを搭載し、センサの量産において業界で...
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アドバンテスト、T2000の高速デジタルモジュール「8GDM」を発表
T2000の高速デジタルモジュール「8GDM」を発表 シリアル/パラレル/メモリ・インタフェース付きSoCデバイス向けに 開発から製造までの時間短縮と、コスト削減を実現 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)は、テスト・システム「T2000」向けに、PCI Express(*)やDDRなどの高速シリアル/パラレル/メモリ・インタフェース付きSoCに対応する新しいデジタルモジュール「8GDM(8Gbps Digital Module)」を発表しました。当モジュールは、2012年12月5日〜7日に幕張メッセにて開催される「セミコン・ジャパン 2012」に出展する予定です。(ホール8 8C−901) 8GDMは、最高8G...
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アドバンテスト、米ニュージャージー州に解析装置の販売活動強化で新オフィスを設立
米ニュージャージー州プリンストンに新オフィスを設立 製剤向け解析装置『TAS7500』の販売推進活動を強化 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)の米国現地法人Advantest America Inc.が2012年10月1日、米ニュージャージー州プリンストンに新しいオフィス「プリンストン・オフィス」を設立しました。 プリンストンおよびその周囲には、米国はもとより欧州や日系の大手製薬品企業の開発拠点が多数存在しています。この地域の中心に活動拠点を設立することで、顧客のニーズに迅速に対応し、当社のテラヘルツ分光・イメージング・システム「TAS7500...
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アドバンテスト、テスティング・ソリューションの会員制サービスを開始
クラウド・テスティング・サービスを2012年秋から開始 最先端のテスティング技術をオンデマンドで提供 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)は、半導体・電子デバイスの研究・開発、設計者向けに、クラウド・コンピューティングを活用したテスティング・ソリューションの会員制サービスを、2012年秋に開始いたします。 今回発表したソリューションは、2012年6月6日、7日に開催されるADVANTEST EXPO 2012で出展する予定です。 今日の社会を支える半導体デバイスの進歩の速さは、半導体産業が興って半世紀を経た今でも衰える気配はありません。アドバンテ...
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アドバンテスト、4月から半導体検査装置など向けMEMSリレーのサンプル出荷を開始
アドバンテスト、MEMSリレー市場に参入 サンプル出荷を開始。圧電駆動方式で小型化と高信頼性を実現 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)はこのたび、半導体検査装置、高速通信機器、高周波計測器・部品などに使用されるMEMSリレーを開発し、2012年4月よりサンプル出荷を開始いたします。 ※製品画像は、添付の関連資料を参照 高周波リレーは現在、電磁駆動や静電駆動によるものが多く普及しています。しかし電磁駆動はサイズや消費電力が大きい、静電駆動は静電気等の環境に影響されやすく、駆動電圧も高いという問題を抱えています。 当社のMEMSリレーは、圧電駆動...
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アドバンテスト、米CPUメーカーに累計1000台目のテスト・システム「T2000」を納入
テスト・システム「T2000」が米国大手半導体メーカーに累計1000台納入 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)はこの度、米国の大手CPUメーカーに累計1000台目となるテスト・システム「T2000」を納入しました。1000台目のシステムは世界中に設置されている多くの「T2000」のうちの一台として、CPUや他のSoCデバイスの量産試験に供用されます。 「T2000」は、業界最高レベルの多数個同時測定能力を提供します。複数のテスタ・コントローラ、フレキシブルな組み合わせが可能なモジュール構造、ユーザ使用エリアが広いロード・ボードにより、グラフィ...
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アドバンテスト、テラヘルツ分光・イメージング・システム「TAS7500」を開発
テラヘルツ分光・イメージング・システム「TAS7500」を開発 医薬品解析に新たな「光」 今まで見えなかった医薬品の品質を迅速かつ非破壊で解析 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:松野晴夫)は、医薬品の製剤解析向けにテラヘルツ波(*1)を用いた卓上型非破壊分光・イメージング・システム「TAS7500」を開発いたしました。 「TAS7500」は、新たな手法で固体から液体までのさまざまな製剤に関する結晶性や成分の特性を非破壊のまま迅速に解析します。さらに、これまで非破壊解析が困難であった錠剤のコーティング膜厚、密度、内部構造等の物性を2次元(2D)、3次元(3D...
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Verigyの株主がアドバンテストの買収提案を承認 2011年6月20日・2011年6月19日 − 本日、株式会社アドバンテスト(以下、アドバンテスト)(東京証券取引所証券コード:6857、ニューヨーク証券取引所証券コード:ATE)とVerigy Ltd.(以下、Verigy)(NASDAQ証券コード:VRGY)は、2011年6月17日に開催されたVerigyの臨時株主総会でVerigyの株主が、アドバンテストの買収提案を承認したことを発表いたします。両社が2011年3月28日に締結したImplementation Agreement(以下、買収契約)に従ってアドバンテス...