アドバンテスト、高速メモリUFSや１チップPCIe　SSD向けテスト・システム「T５８５１」を発表

メモリ・テスト・システム「T５８５１」を発表
高速メモリUFS（Universal　Flash　Storage）や１チップPCIe　SSD向けテスト・システム
高い生産性と低いテスト・コストを兼ね備えた、システムレベル・テスト・ソリューション


　株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：黒江真一郎）は、メモリ・テスト・システムの新製品「T５８５１」を発表しました。


　※製品画像は添付の関連資料を参照


　「T５８５１」は、スマートフォン、タブレット、ノートPCなどのモバイル機器に使用される、高性能・低消費電力の次世代高速メモリUFS（Universal　Flash　Storage）や、１チップ化されたBGAタイプPCIe（PCIexpress）SSD（Solid−State　Drives）向けテスト・システムです。低消費電力が求められるモバイル機器において、より高速でエネルギー効率の高いシリアル・インタフェースと高性能なストレージ・プロトコルを併せ持つ、高度なストレージ・ソリューションが求められています。「T５８５１」は、デバイスのシステム・レベル・テストに特化した新しい分野のテスト・ソリューションにおいて、これまでのメモリ・テスト・システムと同様の信頼性、低コストかつ量産性能を実現し、お客様のあらゆるニーズに応えます。

　「T５８５１」はSSD試験装置として実績のある当社「MPT３０００シリーズ」のアーキテクチャをベースとし、PCIeをはじめ複数のプロトコルに対応します。また、DUT（Device　Under　Test）完全個別試験と、アドバンテストが独自開発したハードウエア・アクセラレータ―により、業界トップクラスのテストタイムを実現します。

　「T５８５１」は、あらゆるメモリデバイスをサポートするT５８００シリーズの新たなラインナップです。モジュール単位でのアップグレードが可能であり、お客様はデバイスの種類に応じてシステム構成とパフォーマンスを最適化でき、長期にわたり投資効率を高めることができます。コンパクトなエンジニアリング評価解析タイプと、当社のテスト・ハンドラ（自動搬送装置）「M６２４２」などとの接続が可能な量産試験タイプの２つのモデルを用意しています。

　また、拡張性に富んだ高電流プログラマブル電源は、今日及び次世代のあらゆるデバイスニーズに対応し、液冷方式のモジュールとともに優れたテスト信頼性を提供します。当社メモリ・テスト・システムとともに業界に広く普及しているFutureSuite(TM)ソフトウエアを採用し、お客様の設備投資と量産展開のリスクを最小化します。

　「T５８５１」の販売開始時期は、エンジニアリングタイプを２０１６年３月、プロダクションタイプを２０１６年６月に予定しています。