アドバンテスト、T２０００の高速デジタルモジュール「８GDM」を発表

T２０００の高速デジタルモジュール「８GDM」を発表
シリアル／パラレル／メモリ・インタフェース付きSoCデバイス向けに
開発から製造までの時間短縮と、コスト削減を実現


　株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：松野晴夫）は、テスト・システム「T２０００」向けに、PCI　Express（＊）やDDRなどの高速シリアル／パラレル／メモリ・インタフェース付きSoCに対応する新しいデジタルモジュール「８GDM（８Gbps　Digital　Module）」を発表しました。当モジュールは、２０１２年１２月５日〜７日に幕張メッセにて開催される「セミコン・ジャパン　２０１２」に出展する予定です。（ホール８　８C−９０１）

　８GDMは、最高８Gbpsのテスト速度で各種SoCインタフェースに対応します。また、クロック・データ・リカバリ１、ジッタ・インジェクション２、I／Oデッドバンド・キャンセラ３、マルチ・ストローブ４などの機能を搭載しています。さらに、デバイスの開発時間短縮を実行できる「ファンクショナル・テスト・アブストラクション（FTA）」に対応するEPP（Enhanced　Performance　Package）のオプションとして提供されているため、複雑なシステムレベル試験が容易に行えます。

　当社のT２０００テスト・システムは高性能で、かつ量産の成功のカギを握る高スループット、マルチユーザーテスト環境、コンカレントテスト機能を揃えているため、テストコスト削減と開発から製造までの時間短縮に貢献します。８GDMは従来モジュールと比べ集積度・性能を向上させた結果、高速インタフェースやマルチ・タイム・ドメインなどのテストニーズに対応し、マーケットシェアのさらなる獲得をめざします。


■８GDM（Digital　Module）の主な機能

　１．クロック・データ・リカバリ：PCI　Express規格で採用されているエンベデッドクロック方式（デバイスからのデータにクロック信号を重ね合わせて出力する方式）に対応した試験が行えます。

　２．ジッタ・インジェクション：出力信号にジッタ（時間軸方向での信号波形の揺らぎ）を意図的に付加することで、受信側のジッタに対する耐力を試験することができます。

　３．I／Oデッドバンド・キャンセラ：データの入出力を同一のピンで行うデバイスを測定する場合、テスタのI／Oピンとデバイスまでの線路長の影響によりデバイスとテスタの出力がテスタの受信側で重畳してしまい正しく測定できない場合があります。このような場合に、テスタの出力データによる影響を取り除くことでデバイスの出力データを正しく比較判定するための機能です。

　４．マルチ・ストローブ：複数のストローブ信号を同時に用いることで、信号波形のpass／failの判断を複数位相において同時に判断する方式です。固定ストローブ方式と比較して、試験時間を大幅に削減することができます。


＊PCI　ExpressはPCI−SIG社の登録商標です。