メモリ・テスト・システム「T５８３３」を販売開始 モバイルDRAMとNANDフラッシュ・メモリ双方の試験に対応できる 新しい多機能　メモリ・テスト・システム 　株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：黒江真一郎）は、DRAMとNANDフラッシュ・メモリ双方の試験に対応したメモリ・テスト・システム「T５８３３」の出荷を２０１５年６月に開始します。 　今後一層の普及が見込まれるモバイル製品には、高速で大容量化が進むDRAM、NANDフラッシュ、MCP（Multi　Chip　Package）が使われています。これら高速化と大容量化が進むデバイスについて、「T５８３３」はウエハ試験とパッケージ試験を共に行うことができる多機能型テスト・...