アドバンテスト、テスティング・ソリューションの会員制サービスを開始

クラウド・テスティング・サービスを２０１２年秋から開始
最先端のテスティング技術をオンデマンドで提供



　株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：松野晴夫）は、半導体・電子デバイスの研究・開発、設計者向けに、クラウド・コンピューティングを活用したテスティング・ソリューションの会員制サービスを、２０１２年秋に開始いたします。
　今回発表したソリューションは、２０１２年６月６日、７日に開催されるＡＤＶＡＮＴＥＳＴ　ＥＸＰＯ　２０１２で出展する予定です。

　今日の社会を支える半導体デバイスの進歩の速さは、半導体産業が興って半世紀を経た今でも衰える気配はありません。アドバンテストはこれまで、最先端のテスティング・ソリューションを通じて、半導体デバイスの進歩を先端で支えてきました。このたび当社が提案するのは、アドバンテストのテスティング・ソリューションとクラウド・コンピューティングを融合させた、今までにない新たなコンセプトの「ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｉｎｇ（ＴＭ）　Ｓｅｒｖｉｃｅ（ＣＴＳ）」です。

　お客様に準備していただくのはパソコンとインターネット接続環境だけです。クラウド上には、アドバンテストが培ってきた豊富なソフトウェア（テスト・アプリケーション、評価・解析ツール）が用意されます。これらのソフトウェアをダウンロードし、パソコンを専用の小型試験用端末（ＣｌｏｕｄＴｅｓｔｉｎｇ（ＴＭ）　Ｓｔａｔｉｏｎ）に接続するだけで、お客様のニーズに合ったテスティング環境をオンデマンドでご利用いただけます。従来のテスタに比べ、被測定デバイスの拡張性が高く、価格、スペースの面でも大幅に利用しやすくなり、研究・開発や試作品設計などにご活用いただける設計となっています。
　サービス開始時にロジックＩＣ測定のためのテスト・アプリケーションや解析・表示ツールの配信を行い、アナログＩＣ、メモリＩＣ向けなども配信していきます。