アドバンテスト、アナログIC／ミクスド・シグナルIC向け計測システムを販売開始

アナログIC、ミクスド・シグナルIC向け計測システム「EVA１００」を販売開始
評価から量産までのあらゆるシーンでエンジニアを強力にサポート


　株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：松野晴夫）は、少数ピンのアナログICや、デジタル回路とアナログ回路の両方を搭載したミクスド・シグナルICテスト向け計測システム「EVA１００」の販売を開始しました。

■本システムの特長
　拡張性あるシステム・アーキテクチャを持つ計測システム「EVA１００」は、優れた計測機能と直感的な操作性で、エンジニアに求められていた高いテスト・プログラミング技術と機器の複雑な操作技術の負担を軽減させ、お客様が開発中のデバイスの早期市場投入に貢献いたします。
　アナログ電圧・電流源、パターン・ジェネレータ、オシロスコープなど、デバイス評価時に必要な機能をコンパクトなボディ１台に搭載し、従来の個々の計測器間の煩雑なケーブリングや制御操作を不要としました。これらの機能は高いタイミング精度で同時制御が可能なため、高い測定再現性を実現します。さらに、プログラミング言語を不要とした直感的な操作環境は、計測、評価作業の効率を飛躍的に向上させ、設計評価から量産・選別工程などあらゆるシーンを強力にサポートします。

■開発の背景
　近年、注目されている安全で快適なスマート社会の実現をはじめ、IoT（Internet　of　Things）市場などのさまざまな分野においてアナログICやミクスド・シグナルICの役割がとても重要になってきています。そして、これまで以上に、高い性能、精度、信頼性が求められています。しかし、これらのデバイス開発の現状は、各種計測器を組み上げてシステムを構築する作業から、量産への展開作業まで、実に多くの時間と労力を要し、デバイスの市場投入を早期に行えない状況を作り出していました。こうした背景のなか、デバイスの特性・機能・量産評価に必要な機能をプログラム言語レスで直感的に、さらに低テスト・コストを実現する測定システムが求められていました。

　※製品画像は添付の関連資料を参照


＜製品の主な仕様＞

　対象デバイス　　　　　　　：汎用アナログIC、ミクスド・シグナルIC、センサIC
　本体サイズ・重量　　　　　：（W）３６３mm×（H）２０５mm×（D）４７２mm，最小構成時９kg以下
　汎用デジタル・コントローラ：１００Mbpsパターン・ジェネレータ（８ch）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　I２C（＊１），SPI（＊２），JTAG（＊３）プロトコル・サポート
　　　　　　　　　　　　　　　　　　リレー・コントロール（６４bits）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　ハードウェア同期制御（外部計測器含む）
　アナログVIソース　　　　　：電圧レンジ±１２８V　電流レンジ±２．０A（DC）／５．０A（Pulse）
　　　　　　　　　　　　　　　　　電圧レンジ　±６４V　電流レンジ±５００mA（DC）
　　　　　　　　　　　　　　　　　任意波形発生器、デジタイザ、差動電圧測定
　シグナル・キャプチャ　　　：１Gbps（最大２Gbps）サンプリング（４ch）

　＊１　I２C、
　＊２　SPI：いずれもシリアル通信規格の１種。
　＊３　JTAG：基板の検査やCPUのデバッグなどに用いられる通信規格。