エプソン、ICの搬送・検査・選別を行うICテストハンドラー「NS８０４０SH」を受注開始

多様な検査環境が構築可能なICテストハンドラー『NS８０４０SH』
―旺盛な需要が続くスマートフォン用ICの検査に最適―

　＊製品画像は添付の関連資料を参照

　セイコーエプソン株式会社（社長：碓井　稔）は、ICの搬送・検査・選別を行う新型ICテストハンドラー『NS８０４０SH』の受注を開始いたしました。

　近年、特に中国をはじめとする新興国地域において、ローエンドスマートフォンと呼ばれる比較的安価なスマートフォンの需要が急増しており、スマートフォン向けICを製造する半導体メーカーにおいても新規設備投資が盛んに行われています。今後もこの需要は継続する見通しであり、対応ICの増産体制を確保することが求められています。
　『NS８０４０SH』はこのような需要に応える装置で、エプソン独自のロボット制御技術「スマートモーションコントロール」によって小型のICを高速かつ安定的にハンドリングします。従来からご好評をいただいている『NS８０４０』の後継機種であり、その基本的な特徴を継承しつつも、ICの多ピン化にあわせてICを検査用ソケットに押し込む標準加圧を１，２００N（ニュートン）に高めたほか、装置内部でICを搬送するハンドの構成も、Inline４サイト（※１）、SQ４サイト（※２）の両方に対応しました。また、８サイト（※３）へのアップグレードにも対応することができるなど、お客様の環境に合わせた柔軟な検査環境を構築できます。
　※１　直列に並んだ４個のICを同時に検査する仕様
　※２　２×２の配列で並んだ４個のICを同時に検査する仕様
　※３　８個のICを同時に検査する仕様

　ICテストハンドラーとは、IC製造の検査工程にて検査装置と組み合わせて使用されるもので、ICを検査装置に搬送して最終性能試験を行い、外観や電気的特性などによって良品・不良品などのカテゴリーに分類する装置です。１台の装置で形状やピン数などが異なるさまざまなICを扱うことができ、常温、高温など異なる環境下での検査を行うことも可能です。装置内部にはICを搬送する複雑なロボット機構が組み込まれており、さまざまな動作を高精度にシンクロさせる非常に高度な制御が必要となります。


　・エプソンのICテストハンドラー全般に関する情報は、下記をご参照ください。
　http://www.epson.jp/prod/handler



以上