オリンパス、多様な分光特性を高速で測定できる近赤外顕微分光測定機を８月発売

可視から近赤外領域で、多様な分光特性を高速で測定

近赤外顕微分光測定機「ＵＳＰＭ−ＲＵ−Ｗ」を発売


　オリンパス株式会社（社長：マイケル・ウッドフォード）は、可視から近赤外領域で多様な分光特性を高速で測定できる、近赤外顕微分光測定機「ＵＳＰＭ−ＲＵ−Ｗ」を、２０１１年８月１日に発売します。

　顕微分光測定機は、開発・製造現場において、レンズなどの光学素子のコーティングを評価したり、電子基板上の微細なエリアの反射率や膜厚を測定するために用いられる機器です。開発の意図通りの性能になっているか、品質基準を満たしているか、など品質評価をサポートします。

　今回発売する近赤外顕微分光測定機「ＵＳＰＭ−ＲＵ−Ｗ」は、ＵＳＰＭシリーズのラインアップとして、高度な測定ニーズにこたえるため、可視から近赤外領域（３８０ｎｍ−１０５０ｎｍ）まで幅広い波長での反射率測定ができるようになったほか、物体色測定、多層膜厚測定機能を標準で搭載しています。さらに、オプションの透過率測定、４５度反射率測定を加えると、１台で全５種類の測定機能を搭載しています。

　また、本測定機専用の対物レンズでフォーカスすることで、微小領域や曲面測定が可能です。加えて、全波長を同時に分光するなどによって高速で測定することができるため、一般の分光光度計に比べて作業性に優れるという特徴があります。


●発売の概要

　製品名：近赤外顕微分光測定機「ＵＳＰＭ−ＲＵ−Ｗ」

　価格（税込み）：９３０万円〜

　発売日：２０１１年８月１日


●主な特長

　１．可視から近赤外領域で、「反射率」「物体色」「膜厚」「透過率」「４５度反射率」の５種類の測定が可能

　２．微小領域や曲面の測定が可能

　３．全波長を同時に分光することなどにより高速測定を実現


ホームページ：
　http://www.olympus.co.jp/


　　※　製品画像などは、関連資料参照