日本NI、半導体テストシステムのRF測定機能を強化

NIが半導体テストシステムのRF測定機能を強化、さらなるコスト削減が可能に
高出力のRFポートの登場により、最新のRFフロントエンドモジュールに対応できるよう機能を拡張


　日本ナショナルインスツルメンツ株式会社（本社：東京都港区、代表取締役：マンディップ　シング　コラーナ、以下　日本NI）は、２０１６年９月２９日、「NI半導体テストシステム（http://www.ni.com/semiconductor-test-system/ja/）（STS）」を拡張するものとして、高出力信号の送受信に対応する新たなRFポート、ならびに、FPGAを駆使してリアルタイム動作が可能なエンベロープトラッキング機能とデジタルプリディストーション機能を発表します。

　NIではこれまでにも、STSに対して様々な機能の拡張を行ってきました。今回発表した高出力信号に対応したRFポートを使用することで、RFフロントエンドモジュールのメーカーは、RFICやスマートデバイスのテストに対する厳しい要件に対応可能になるのと同時に、コストの削減を図ることが可能となります。このRFポートはSTSに統合されて提供されるため、測定確度や性能を損なうことなく、RFテストの開発時間の短縮、開発コストの削減を実現できます。また、従来のATE（半導体用の自動試験装置）でRF関連のテストを実施する際に必要とされていたような高価なRFサブシステムも不要になります。

　RFフロントエンドモジュールには、従来と比べてより多くのコンポーネントが集積されるようになりました。その一方で、新たな広帯域ワイヤレス規格では、より高いピーク電力対平均電力比（PAPR：Peak−to−Average　Power　Ratio）が求められるようになっています。そのため、RFフロントエンドモジュールを製造するメーカーは、より高い出力に対応できるRF測定機能を必要としています。STS用の新しいRFポートは、RFブラインドメイトコネクタにおいて＋３８dBmでの送信と＋４０dBmでの受信が可能です。これは、ほかの商用ソリューションでは提供されていない業界最先端の機能です。またSTSではあらゆる機能を備えたソフトウェアを使用することで、新たに、２６GHzに対応するSパラメータ測定、FPGAベースのエンベロープトラッキング、同じくFPGAベースのデジタルプリディストーションの各機能が実行できるようになりました。これらの機能を備えたSTSは、次世代RF　IC用の製造テスト（出荷検査）に向けた理想的なソリューションとしてお使いいただけます。

　STSは、従来とは根本的に異なるアプローチを用いて半導体製品の製造テストに対応するものとして２０１４年に発表されました。技術者がよりスマートなテストシステムを構築するために使用されるNIのプラットフォームとエコシステムを基盤にしています。現在、このプラットフォームは、帯域幅が１GHzのベクトル信号トランシーバ（http://www.ni.com/vst/ja/）（VST）、測定感度がfAレベルのソースメジャーユニット（http://www.ni.com/powersupplies/ja/）（SMU）、業界を牽引するCOTS（商用オフザシェルフ）のテスト管理用ソフトウェア「NI　TestStand　Semiconductor　Module（http://sine.ni.com/np/app/main/p/docid/nav-94/lang/ja/fmid/12036/）」、DC〜ミリ波を網羅する６００種以上のPXI（PCI　eXtensions　for　Instrumentation）製品で構成されています。このプラットフォームでは、PCI　Express　Gen３に対応するバスインタフェースを使用したスループットの高いデータ転送や、内蔵タイミング／トリガ機能によるナノ秒未満での同期が可能です。加えて、「NI　LabVIEW」や「NI　TestStand」といったソフトウェア環境を利用することで高い生産性が得られます。さらに、NIのアプリケーションエンジニアやパートナー企業、数多くのアドオン用IP（Intellectual　Property）など、十分なエコシステムが活用できます。それにより、テストに要するコストを大きく削減しつつ、製品を市場に投入するまでの時間を短縮することが可能になります。STSならびに関連する多くのリソースを利用すれば、より複雑なテストの要件に対応できるとともに、将来にわたって利用可能なテストシステムを構築することができます。

■NI半導体テスト担当バイスプレジデント　Ron　Wolfeのコメント
　「従来のATEは、RFICやミックスドシグナルICへの対応という面で大きな課題を抱えています。NIは、ATEに代わるよりスマートな製品をRFIC／ミックスドシグナルICのメーカーに提供することにより、そうした現状を打破し続けています。オープンなモジュール式アーキテクチャを基盤とするSTSを採用すれば、その投資を無駄にすることなく最新の商用技術を活用することができます。それにより、ICが進化するペースに合わせて、テスト用の機能も進化させていくことが可能になります。」

　NI　STSの拡張機能についてはhttp://www.ni.com/semiconductorを参照してください。

■日本ナショナルインスツルメンツについて
　ナショナルインスツルメンツ（NI）は、１９７６年以来、柔軟で優れたテクノロジシステムを提供し、世界中のエンジニアの生産性向上とイノベーションを後押ししてきました。ハードウェアとソフトウェアを統合したNIのプラットフォームは、ヘルスケアや自動車、家庭用電化製品から素粒子物理学にいたるまで、あらゆる業界で活用され、社会の発展に貢献しています。日本ナショナルインスツルメンツ（http://japan.ni.com）は、NIの日本法人です。