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東京特殊電線、直径20ミクロンの電子部品検査用コンタクトプローブを開発
世界最小径レベル!
直径20ミクロンの電子部品検査用コンタクトプローブを開発
東京特殊電線株式会社は、電子部品の電気検査に使用されるコンタクトプローブ(検査用接触針)としては世界最小径レベルとなる直径20ミクロン(1ミクロン=0.001ミリメートル)の製品を開発し、サンプル出荷を開始しました。
今回開発した直径20ミクロンのコンタクトプローブは、高集積化する半導体ICやスマートフォン用電子部品の電気検査には必要不可欠です。
コンタクトプローブは、半導体ICや高密度プリント基板などの電子部品の電極へ接触させて、電気的な検査を行うための接触針です。近年、高集積化する電子部品の電極はますます小さくなり、また、隣接する電極間隔も非常に狭くなっています。電極間隔が50ミクロンと非常に高集積な部品の検査には、今回開発した直径20ミクロンのコンタクトプローブで無ければ対応できません。
当社のコンタクトプローブは、電線メーカである当社独自の特殊な電線製造技術を応用し、一貫ラインにより生産します。現在までに直径110、90、70、60、50、40、30ミクロンのコンタクトプローブを開発し、販売してきました。今回新たに開発した直径20ミクロンのコンタクトプローブは世界最小径レベルとなり、既存の製造技術に加え新たに極細径に対応する製造技術を開発し、製品化しております。
今後、当社独自の技術により得意とする50ミクロン以下の細径コンタクトプローブに注力し、高集積化する電子部品検査需要に応えていきます。
※製品画像は添付の関連資料を参照
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