産総研、ビスマスナノワイヤーのホール係数を測定する技術を開発

ナノワイヤーの新たな評価技術を開発
−ナノテクノロジーを駆使してホール係数の測定に成功−


■ポイント
　●世界で初めてビスマスナノワイヤーのホール係数を測定
　●酸化を防ぎつつナノテクノロジーを駆使して高い精度で微細電極を作製
　●新しい効果の発現が期待されるナノワイヤーの物性解明に期待

■概要
　国立研究開発法人産業技術総合研究所【理事長　中鉢　良治】（以下「産総研」という）省エネルギー研究部門【研究部門長　宗像　鉄雄】熱電変換グループ　村田　正行　研究員、山本　淳　研究グループ長は、国立大学法人埼玉大学【学長　山口　宏樹】（以下「埼玉大」という）大学院理工学研究科　長谷川　靖洋　准教授、国立大学法人茨城大学【学長　三村　信男】（以下「茨城大」という）工学部　小峰　啓史　准教授と共同で、新しい効果の発現が期待されるビスマスナノワイヤーのホール係数を測定する技術を開発した。
　今回、直径７００nm、長さ２．６９mmのビスマスナノワイヤーに、微細な加工と観察ができるFIB−SEM装置を用いて、微細電極を形成することで、ナノワイヤーにおけるホール係数の精密測定に世界で初めて成功した。また、測定の結果、キャリア移動度がバルクのビスマスと比べて大幅に低下することを実験的に初めて明らかにした。今回開発した測定技術の応用により、様々なナノワイヤーの物性解明への貢献が期待される。
　なお、この技術の詳細は、平成２８年１２月１２日にアメリカ化学会が発行する国際学術誌Nano　Lettersのオンライン版で発表される。

　※参考画像は添付の関連資料を参照

　※リリース詳細は添付の関連資料を参照