アンリツ、マルチチャネル光モジュールを効果的に評価できる測定器を販売開始

マルチチャネル光モジュール評価に対応
BERTWave　MP２１００Bを販売開始


　アンリツ株式会社は、マルチチャネル光モジュール［※１］を効果的に評価できる測定器として、BERTWave　MP２１００Bを開発。MP２１００Aの後継機種として９月２４日から販売を開始いたします。
　今回開発したBERTWave　MP２１００Bは、BER測定［※２］とアイパターン解析［※３］を同時に測定できる測定器です。光通信システムで使用される光モジュールや光デバイス［※４］の評価で必須の測定項目を、MP２１００B　１台で実現できます。従来、BER試験とアイパターン解析を実施する場合、２台の測定器が必要でした。MP２１００Bはこれらの評価を１台で実現できるため、測定器設備投資金額を約４０％削減できます。さらに、この度新たに光スイッチおよび光減衰器を応用部品として追加しました。これにより、アンリツはマルチチャネル光モジュールや光デバイスの評価をトータルソリューションとしてサポートします。
　また、光モジュールおよび光デバイスの製造市場で要求される測定速度の高速化を図るため、アイマスク試験［※５］などのアイパターン解析時間を従来機種と比較して１．５倍高速化し、最大で１５０k　sample／sのサンプリング速度を実現しました。さらに、MP２１００BはBERT（Bit　Error　Rate　Tester）のチャネル数を最大で４chまで拡張することができます。これにより、QSFP＋などのマルチチャネル光モジュールのBER測定を４chまで同時に実施でき、測定時間を従来機種と比較して最大約８０％短縮することができます。
　MP２１００Bは、測定器設備投資額の抑制、測定時間の短縮化による光モジュールや光デバイス製造コストの削減に大きく貢献します。


［開発の背景］
　クラウドコンピューティングサービスの普及により、データセンタの情報量は急速に増大し、データセンタで使用されているサーバやネットワーク機器の伝送容量を増やすことが急務となっています。そのため、データセンタではこれらサーバやネットワーク機器に光モジュールが使用されるようになってきており、光モジュールの需要が増加しています。特に、１０GbE用SFP＋や４０GbE（１０Gbit／s×４）用QSFP＋の需要が急増しています。
　そこでアンリツは、QSFP＋などのマルチチャネル光モジュールを効率的に評価するために、最大４chまでBERTを拡張できるBERTWave　MP２１００Bをリリースしました。


［製品概要］
　BERTWave　MP２１００Bは、光モジュールの開発・製造で必須となるBERTとサンプリングオシロスコープを１台に搭載したAll　in　one測定器です。１２．５Gbit／sの信号発生器（PPG：Pulse　Pattern　Generator）および、誤り検出器（ED：Error　Detector）を最大４chまで、そして電気帯域２５GHz、光帯域９GHzのサンプリングオシロスコープを同時に搭載できます。MP２１００B１台で、最大４チャネルまでのBER測定とアイパターン解析を同時に測定することができるため、QSFP＋などのマルチチャネル光モジュールに対して、より効率的な測定を実現します。また、最大１５０k　sample／sに高速化されたサンプリングスピードにより、アイパターンの測定時間を短縮します。
　さらに、PPGのジッタを最小１ps、Tr／Tfを最小２４psの高品質な出力信号を実現しました。また、EDの受信感度は最小１０mVp−pを実現しました。これにより、光モジュールや光デバイスの特性をより正確に評価することができます。


［主な特長］
　■BERTとサンプリングオシロスコープを一体化
　従来は信号源となるPPGとアイパターン解析用のサンプリングオシロスコープは別の筐体を使用しており、測定には２台分の費用と大規模な実験系により大きなスペースが必要でした。そこで、MP２１００BはPPGとサンプリングオシロスコープを１台に搭載することで測定器への投資費用の削減に貢献します。また、奥行き１８cmのコンパクトサイズを実現したことにより、大きな実験スペースを必要としません。さらに、一体型にすることにより、必須の測定であるBER測定とアイパターン解析が同時に実施できるため、測定時間を短縮することができ、光モジュールおよびデバイスの検査コストの削減に貢献します。

　■高速BER試験
　最大４chの設定および測定を同時に行うことができます。

　■高速アイマスク試験
　高速サンプリングおよび標準搭載されているFast　Sampling　Modeを使用することにより、最大で１５０k　sample／sのサンプリング速度を実現しました。

　■電気・光インタフェース対応
　電気と光のインタフェースに対応しているため、光モジュールの送受信評価を煩雑なケーブルのつなぎ変えをせずに実施できます。

　■広帯域な動作周波数
　オプションを搭載することにより、１２５Mbit／s〜１２．５Gbit／sまでのビットレートに対応できるため、１台でSTM−１や１０GbEなどさまざまなアプリケーションで使用できます。

　■クロックリカバリ機能
　EDのクロックリカバリ機能が標準搭載されているため、外部クロックなしでデータ信号を入力してBER解析ができます。また、サンプリングオシロスコープ用のクロックリカバリオプションを搭載することにより、長距離伝送やクロック出力のない伝送装置などの光特性評価ができます。

　■マスクマージン試験
　マスクマージン試験を自動で行えるため、煩雑な手動による設定が不要です。また、マスクマージン試験に必要な時間は約１秒と高速な測定が行えます。


［対象市場・用途］
　■対象市場：光モジュール、光デバイス、ケーブル、コネクタ
　■用途：光モジュール、光デバイス、ケーブル、コネクタの研究、開発、製造


［用語解説］
　※１　光モジュール
　TOSA／ROSA、VCSELなどの光デバイスをSFPやQSFPなどの送受一体型のトランシーバとして内蔵したもの。
　※２　BER測定
　ビット誤り率。受信されたデジタル・データのビット列の中に含まれる、誤ったビットの比率。
　※３　アイパターン解析
　周期的な信号波形を加算することでアイパターン波形の解析をおこなうこと。表示された信号波形が目のように見えることからアイパターンと呼ばれる。
　※４　光デバイス
　光信号を電気信号に変換あるいは、電気信号を光信号に変換するデバイス。
　※５　アイマスク試験
　アイパターン解析の一種。アイパターンが、各規格で要求されるマスクに準拠しているかを確認する試験。


◆お客様からのお問合せ先
　アンリツ株式会社
　計測器営業本部　営業推進部
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