日本NI、優れた性能と柔軟性を備えたソフトウェア設計型計測器を発表

２０１４年８月７日　日本NI、Software−Designed　Instrument（ソフトウェア設計型計測器）製品のラインナップを拡充
ソフトウェア設計という新たなパラダイムシフトによって、オシロスコープ、RF、信号アナライザ、および高速シリアル計測器の可能性が拡がります。


■ニュースハイライト

　・優れた性能と柔軟性を備えたSoftware−Designed　Instrument（ソフトウェア設計型計測器）製品を発表します。搭載されたFPGAをソフトウェアでプログラムすることにより、計測器の機能を細かく設定することが可能となります。

　・ワイヤレス／モバイル機器、半導体、自動車、および航空宇宙業界における自動テスト／研究アプリケーションでの使用に適しています。

　※製品画像は添付の関連資料を参照

　日本ナショナルインスツルメンツ株式会社（本社：東京都港区、代表取締役：池田亮太）は８月７日、優れた性能と柔軟性を備えたSoftware−Designed　Instrument（ソフトウェア設計型計測器）（http://www.ni.com/software-designed-instruments）（注１）製品を発表いたします。搭載されたFPGAをソフトウェアでプログラムすることにより、計測器の機能を細かく設定することができ、ベンダ定義の計測器では解決できなかったコストや様々な制限の問題に対応することができます。

　２０１２年、NIは最初のSoftware−Designed　Instrument製品として、ベクトル信号トランシーバ（http://www.ni.com/vst/ja/）を発表いたしました。従来のベンダ定義の計測器をNIのSoftware−Designed　Instrumentに置き換えたことで、Qualcomm　Atheros社（http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-15030）はテスト速度を２００倍以上も向上させ、Hittite　Microwave社（http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-15655）はテスト時間を１／３０未満に短縮することができました。今回リリースするSoftware−Designed　Instrument製品は、ワイヤレス／モバイル機器、半導体、自動車、および航空宇宙業界における自動テスト／研究アプリケーションでの使用に適しています。


【新製品一覧】

・オシロスコープ（http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/ja/nid/212658）
　o　NI　PXIe−５１７０R：１００MHz、２５０MS／秒、１４ビットオシロスコープ（４chまたは８ch同時サンプリング）
　o　NI　PXIe−５１７１R：３００MHz、２５０MS／秒、１４ビットオシロスコープ（８ch同時サンプリング）
　
・RFベクトル信号アナライザ（http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/ja/nid/212699）
　o　NI　PXIe−５６６８R：高性能ベクトル信号アナライザ、スペクトルアナライザ（最大２６．５GHz）

・中間周波数（IF）デジタイザ（http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/ja/nid/212701/）
　o　NI　PXIe−５６２４R
　　　・分解能：１２ビット、リアルタイムサンプリング：２GS／秒帯域幅、アナログ帯域幅：２GHz

・高速シリアル計測器（http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/ja/nid/212693）
　o　NI　PXIe−６５９１R
　　　・８チャンネル（ラインレート：最大１２．５Gbps、Mini−SAS　HDコネクタ使用、Tx／Rxレーン）、シングルエンド型汎用デジタルI／Oライン：２０本
　o　NI　PXIe−６５９２R
　　　・４チャンネル（ラインレート：最大１０Gbps、SFP＋コネクタ使用、Tx／Rxレーン）


　NIのSoftware−Designed　Instrument製品に搭載されたFPGAは、ユーザ自身の手によって、使い慣れたLabVIEWシステム開発ソフトウェア(http://www.ni.com/labview/）（注２）でカスタマイズできるため、VHDLやVerilogといった専門的な言語が不要です。つまり、カスタマイズが必要になる度にデジタル設計のエキスパートや計測器ベンダを頼る必要がなくなります。


　Frost＆Sullivan社計測および計測器業界アナリストPrathima　Bommakanti氏のコメント

　「ユーザ側でプログラムできるFPGAを提供することで、顧客には驚くべきメリットがありました。計測器の中身を深く掘り下げて、性能を大幅に変更できるようになったのです。この新しいクラスの計測器は、ユーザがニーズに合わせてその内容を変更することが可能です。本来、顧客ではなくベンダによって製品が定義されてきた業界に起こったパラダイムシフトと言えるでしょう。」


　Valeo社（http://www.valeo.com/en）グローバルテストエンジニアChristian　Pfefferer氏のコメント

　「RFテストは常に変化し続け、すぐに新しいものが登場してきます。ユーザ側でプログラムできるFPGAは、RFテストの要件の拡大に対応できる柔軟性をもたらしてくれるため、現在のスペクトル計測のRFテスト仕様を満たすことができるだけでなく、将来的なニーズにも十分備えることができます。」

　新しい計測器およびSoftware−Designed　Instrumentの詳細については、http://ni.com/software-designed-instrumentsをご覧ください。

　（注１）ソフトェア設計型計測器（software−designed　instrument）：ソフトウェア設計型計測とは、計測の新たなカテゴリで、従来の計測器が誇る実績済みの計測性能とオープンなソフトウェアやファームウェアモデルを組み合せて活用する。ソフトウェアで計測器に搭載されているFPGAをプログラミングすることにより、ユーザは、独自に開発したリアルタイム信号処理・制御アルゴリズムを適用させたカスタム仕様の計測器を構築することが可能となる。

　（注２）NI　LabVIEW（http://www.ni.com/labview/）：計測／テスト／制御システムの開発に使用されているシステム開発ソフトウェア。テキスト行ではなくドラッグアンドドロップ式の関数ブロックでプログラミングでき、直感的なフローチャート表現によりコードの開発や管理、解釈が簡単に行える。


〔日本ナショナルインスツルメンツについて〕

　ナショナルインスツルメンツ（NI）は、１９７６年以来、柔軟で優れたテクノロジソリューションを提供し、世界中のエンジニアの生産性向上とイノベーションを後押ししてきました。ハードウェアとソフトウェアを統合したNIのプラットフォームは、ヘルスケアや自動車、家庭用電化製品から素粒子物理学にいたるまで、あらゆる業界で活用され、社会の発展に貢献しています。日本ナショナルインスツルメンツ（http://japan.ni.com）は、NIの日本法人です。


　本リリースのURL：
　http://www.ni.com/newsroom/release/ni-announces-new-wave-of-software-designed-instruments/ja

　National　Instruments、NI、ni．com、LabVIEWはNational　Instrumentsの登録商標です。Linuxは、Linus　Torvalds氏の米国およびその他の国における登録商標または商標です。その他の企業名ならびに製品名は、それぞれの会社の商標もしくは登録商標です。


【本リリースに関するお問い合わせ先】

　■一般読者向け
　日本ナショナルインスツルメンツ株式会社
　プロダクト事業部　営業部
　TEL：０１２０−５２７１９６／FAX：０３−５４７２−２９７７
　E−Mail：salesjapan@ni.com