カネカ、薄膜シリコン太陽電池モジュールのPID試験耐性を実証

当社薄膜シリコン太陽電池モジュールのPID試験耐性を実証
−高電圧ストレス下での出力安定性を実証−



　株式会社カネカ（本社：大阪市、社長：菅原公一）は、当社製薄膜シリコン太陽電池モジュールにおける社内及び第三者機関である株式会社ケミトックス（本社：東京都大田区、最高経営責任者：中山　紘一）の検証によるPID（Potential　Induced　Degradation／電圧誘起出力低下）試験により、当社製薄膜シリコン太陽電池モジュールがPIDに対して高い耐性を有することが実証されましたのでお知らせいたします。今回、社内及び第三者機関で実施したPID試験の条件は、IEC規格案として提案されているIEC８２／６８５／NP準拠の条件であり、検証結果は、当社製モジュールの高品質ならびに高信頼性を証明するものです。

　PIDとは、結晶Siモジュールで確認されている出力低下現象の一つであり、太陽電池モジュールだけでなく太陽光発電システム全体の出力を低下させる恐れがあります。太陽電池セルと太陽電池モジュールのフレームとの間に高電圧を掛けることにより生じやすく、高温多湿の環境下でシステム電圧が高い太陽光発電システムで起こりやすいと言われています。高電圧ストレスが引き起こすPIDの耐性を確認するために各国の試験機関では、種々の試験条件で調査が行われています。今回は太陽電池モジュールの国際規格として代表的なIEC規格（IEC８２／６８５／NP）の試験条件に準拠し、温度６０℃、相対湿度８５％、印荷電圧システム最大電圧（産業用１０００V及び住宅用６００V）、試験時間９６時間にて試験を行いました。

　当社の子会社であるカネカソーラーテック株式会社が生産している薄膜シリコン太陽電池には、１９９９年の創業当初よりガラスと太陽電池セルの間にアルカリバリア層が設けられており、PIDの原因のひとつとされているガラス中のアルカリ成分の太陽電池セルへの移動を防止する効果があると考えられます。こうした当社の太陽電池設計がモジュールのPID耐性を高めていると考えており、今回、第三者機関での検証結果によって実証されました。当社は、今後、同試験が公式な規格として発行され国内外の試験機関で実施される重要な試験と位置付けており、一層の品質改善に取り組んでまいります。

　当社は数十年にわたって、薄膜シリコン太陽電池の研究開発および製造などに携わってきました。今後もこれらの経験を生かし、更なる高品質・高信頼性を備えた太陽電池の商品を提供してまいります。


以　上