日本エンジニアリング、テスト・バーンイン・システム「Ｂ６７００」を販売

テスト・バーンイン・システム「Ｂ６７００」販売開始

拡張性の高いシステムにより投資コストの削減に寄与



　日本エンジニアリング株式会社（本社　神奈川県川崎市　代表取締役社長　菅江　均）は、拡張性を開発コンセプトに新規開発されたテスト・バーンイン・システム「Ｂ６７００」を、２０１２年７月より販売開始いたします。尚、テスト・バーンイン・システム「Ｂ６７００」は６月６−７日に行なわれる「ＡＤＶＡＮＴＥＳＴ　ＥＸＰＯ　２０１２」（東京国際フォーラム地下展示ホール）で展示いたします。


■開発の背景
　メモリ・デバイスの大容量化の要求に応えるため、メモリチップの積層化技術が著しく向上した結果、メモリパッケージ内のチップ数が増えることによってデバイスの消費電流が増加する傾向にあります。既存のバーンイン・システムでは多層化されたメモリ・デバイスの消費電流増加には考慮されておらず、装置のスループットを著しく低下させていました。
　一方、デバイスの多様化が進み、多品種のメモリ・デバイス、ロジック・デバイスにフレキシブルに対応することもバーンイン・システムに求められています。
　以上のことから多層化されたデバイスに対して、大電流化を行い、低コストを実現することが必要とされ、多品種化が進むデバイスの多様性に対応する拡張性をもったバーンイン・システムの要求が高くなっています。


■新製品の特長
　テスト・バーンイン・システム「Ｂ６７００」はデバイスの多様化に対応するためハードウエア、ソフトウエアの拡張性を重視したシステム構成となっています。多種のオプションが用意され、大電流への対応、テスタと同様なフラッシュ・メモリのテスト機能の実現、多品種に対応するマルチゾーン化への対応が可能です。「Ｂ６７００」ではユーザがマルチタッチの操作で容易に取得データを採取し、変更することが出来る拡張性を持ったオペレーティングシステム「ＯＣＴＬＥＯＮ」を採用しています。
　テスト・バーンイン・システム「Ｂ６７００」は従来の「Ｐ３５００シリーズ」とバーンイン・ボードの互換性があり既存のバーンイン・ボードの有効活用が可能です。

　※「ＯＣＴＬＥＯＮ」は日本エンジニアリング製バーンイン・システム用オペレーションシステムです。
　※「ＯＣＴＬＥＯＮ」は登録商標出願中です。



＊以下、製品画像とリリースの詳細は添付の関連資料を参照