テクトロニクス、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ規格の高速光テスト・ツールセットを発表

テクトロニクス、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ規格の高速光テスト・ツールセットを発表

ＤＳＡ８３００型デジタル・シリアル・アナライザ用光サンプリング・モジュールが１００Ｇまでの光コンプライアンス・テストをサポート



　テクトロニクス（代表取締役　米山　不器）は、本日、ＤＳＡ８３００型デジタル・シリアル・アナライザ用の光コンプライアンス・テスト・ツールセットを発表します。この新しいツールセットは、１台のメインフレームで１０Ｇ、４０Ｇ、１００Ｇ（２５Ｇ×４）のスピードに対応する光コンプライアンス・テスト・ソリューションです。最大で４倍のスループットを実現し、優れたジッタ性能、統合されたクロック・リカバリ・ソリューションも併せ持っています。これにより、ＯＥコンバータなどの外付けのテスト機器が不要になります。また、アップデートされたジッタ解析により、業界唯一のＢＵＪ（Ｂｏｕｎｄｅｄ　Ｕｎｃｏｒｒｅｌａｔｅｄ　Ｊｉｔｔｅｒ、有界非相関ジッタ）分離を可能にし、クロストーク問題の特定に効果を発揮します。

　ＤＳＡ８３００型は、モジュール構造を採用した、汎用性の高いデジタル・シリアル・アナライザです。優れた帯域性能、信号忠実度があり、高性能ＴＤＲ、インターコネクト解析により、現在および最新のデータ通信技術に対し、最も正確な信号障害解析を可能にします。クロック・リカバリ・ユニット、高精度フェーズ・リファレンス・モジュール、電気サンプリング・モジュール、光サンプリング・モジュールなど、最大６台のモジュールが装備でき、１台の計測器でさまざまなテスト構成に対応できます。すべての機能が１台で実現できるため、作業ベンチが効率的に利用でき、校正のコストも抑えられます。使いやすいユーザ・インタフェースも備えており、ＤＳＡ８３００型は光関連の技術者には最適なツールセットにです。

　テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク（Ｂｒｉａｎ　Ｒｅｉｃｈ）は、次のように述べています。「技術者にとっては、重要な光測定を１台の計測器で実行するのが理想です。このツールセットは、ＩＥＥＥ　８０２．３、Ｆｉｂｒｅ　Ｃｈａｎｎｅｌ規格のすべてのテストをサポートしています。ＢＵＪ解析が可能な業界初のサンプリング・オシロスコープ・ソリューションであり、技術者が直面している高速データ・レートでのクロストーク問題の解決に役立ちます」

　最新のＩＥＥＥ　Ｅｔｈｅｒｎｅｔ光／電気規格の４０Ｇ、１００Ｇｂｐｓは、４レーン、１０レーンのアーキテクチャになっています。このようなマルチレーン・アーキテクチャの設計では、ＢＵＪとして示される隣り合ったレーンのクロストークを正確に特定することが重要になります。従来、デュアルディラック（Ｄｕａｌ−Ｄｉｒａｃ）などのジッタ分離手法ではＢＵＪの非繰り返しパート（ＮＰＢＵＪ）は明らかにならず、代わりに間違ってランダム・ジッタに加えられることになってしまい、ビット・エラー・レート・テスタ（ＢＥＲＴ）による結果と比べると誤差の多いジッタ推定となっていました。ＤＳＡ８３００型の新しいＮＰＢＵＪ機能は新しい分離要件に対応でき、クロストークの信号問題を正しく、正確に測定し、明らかにすることができます。


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　テクトロニクスは、計測およびモニタリング機器メーカとして、世界の通信、コンピュータ、半導体、デジタル家電、放送、自動車業界向けに計測ソリューションを提供しています。６５年以上にわたる信頼と実績に基づき、お客様が、世界規模の次世代通信技術や先端技術の開発、設計、構築、ならびに管理をより良く行えるよう支援しています。米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、現在世界２２カ国で事業を展開しています。詳しくはウェブサイト（http://www.tektronix.com/ja）をご覧ください。


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